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Si-पिन डिटेक्टर XR-100CR

XR-100CR एक गामा डिटेक्टर है जिसमें पेल्टियर प्रभाव पर आधारित कूलिंग सिस्टम है। इस डिटेक्टर का उपयोग आमतौर पर प्रयोगशाला स्थितियों में किया जाता है, जिसमें मध्यम ऊर्जा रिज़ॉल्यूशन और कम गिनती दरों की आवश्यकता होती है। डिटेक्टर एक्स-रे प्रतिदीप्ति विश्लेषण, धातु मिश्र धातु चिह्नों की पहचान, पेंट में सीसे का पता लगाने के लिए उपयुक्त है।

अधिकतम शीतलन तापमान -55 ºС है और इसे अंतर्निर्मित तापमान सेंसर द्वारा नियंत्रित किया जाता है।

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संरचना और गुण

    • Si-पिन फोटोडायोड
    • 2-चरण थर्मोइलेक्ट्रिक कूलर
    • तापमान संवेदक
    • बेरिलियम खिड़की
    • मल्टी-चैनल कोलिमेटर
    • सीलबंद आवास

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आवेदन

    • एक्सआरएफ विश्लेषण
    • खतरनाक पदार्थों का पता लगाना/अपशिष्ट निपटान
    • पोर्टेबल गैस विश्लेषक
    • इलेक्ट्रॉनिक प्रणालियों के उत्पादन में एक घटक के रूप में
    • नाभिकीय औषधि
    • शिक्षा और अनुसंधान
    • कला और पुरातत्व
    • तकनीकी प्रक्रियाओं का नियंत्रण
    • मोसबाउर स्पेक्ट्रोस्कोपी
    • अंतरिक्ष अन्वेषण
    • पर्यावरण निगरानी
    • परमाणु ऊर्जा संयंत्रों की स्थिति की निगरानी
    • हानिकारक उत्सर्जन पर नियंत्रण

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चित्र 1. 6 mm2 / 500 mm डिटेक्टर पर प्राप्त 55 Fe का स्पेक्ट्रम।

5.9 keV 55Fe शिखर के लिए रिज़ॉल्यूशन 145 eV (FWHM) और 230 eV (FWHM) है, जो डिटेक्टर के प्रकार और समय स्थिरांक के विकल्प पर निर्भर करता है।

विकल्प

    • बेरिलियम विंडो की परिवर्तनीय मोटाई (0.3 मिमी - 7.5 µm)।
    • बड़े प्रवाह के लिए कोलिमेटर्स का एक सेट।
    • वैक्यूम निष्पादन

XR-100CR विनिर्देश

सामान्य:

डिटेक्टर प्रकार

एसआई-पिन

डिटेक्टर का आकार (डिटेक्टर का संवेदनशील क्षेत्र)

6 मिमी2 ( 4.4 मिमी2 तक समांतरित ) 13
मिमी2 ( 11.1 मिमी2 तक समांतरित ) 25
मिमी2 ( 21.5 मिमी2 तक समांतरित )

सिलिकॉन मोटाई

500 µm (दक्षता वक्र देखें)

समांतरित्र

बहुपरती

ऊर्जा विभेदन @ 5.9 keV ( 55 Fe)

डिटेक्टर के प्रकार और समय स्थिरांक के विकल्प के आधार पर 145 eV (FWHM) और 230 eV (FWHM)।

पृष्ठभूमि

<5 x 10 -3 /s, 6 mm 2 / 500 µm डिटेक्टर के लिए 2 keV से 150 keV

बेरिलियम विंडो की मोटाई

1 मिल (25 µm), या 0.5 मिल (12.5 µm), संचरण वक्र देखें

चार्ज संवेदनशील प्रीएम्पलीफायर

उच्च वोल्टेज रीसेट के साथ मूल एम्पटेक उत्पादन

स्थिरता प्राप्त करें

<20 पीपीएम/°C (सामान्य)

DIMENSIONS

7.6 x 4.4 x 2.9 सेमी (समग्र आयाम देखें)

वज़न

139 ग्राम

कुल खपत

<1 डब्ल्यू

वारंटी अवधि

1 वर्ष

सेवा जीवन

5-10 वर्ष, उपयोग की तीव्रता पर निर्भर करता है

काम करने की स्थिति

0° सेल्सियस - +40° सेल्सियस

भंडारण और परिवहन

दीर्घकालिक भंडारण: सूखी जगह में 10+ वर्ष

मानक स्थितियाँ: -20°C से +50°C, 10 - 90% आर्द्रता

TUV प्रमाणन
प्रमाणपत्र #: CU 72072412 01
परीक्षण किया गया: UL 61010-1: 2004 R7 .05
CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004

इनपुट पैरामीटर

पोषण

XR-100CR डिटेक्टर के लिए बिजली आपूर्ति

9 बी

प्रीएम्पलीफायर बिजली आपूर्ति

±8 से 9 V @ 15 mA, अधिकतम 50 mV पीक-टू-पीक शोर

XR-100CR डिटेक्टर क्रिस्टल के लिए बिजली की आपूर्ति

+180 V (बिजली आपूर्ति 1 µA पर +100 से 200 V के बीच उत्पादन करने में सक्षम होनी चाहिए) बहुत स्थिर <0.1% भिन्नता

कूलर बिजली आपूर्ति

वर्तमान 350mA अधिकतम, वोल्टेज 4V अधिकतम <100mV पीक-टू-पीक शोर के साथ
*XR-100CR में अपना तापमान सेंसर शामिल है

आउटपुट पैरामीटर

उत्पादन में संकेत

XR100CR का आउटपुट +5 V से -5 V तक बदलता रहता है।
रीसेट अवधि डिटेक्टर के प्रकार और गणना दर के आधार पर अलग-अलग होगी।

प्रीएम्पलीफायर संवेदनशीलता

1 mV/keV (विभिन्न डिटेक्टरों के लिए भिन्न हो सकता है)

प्रीएम्पलीफायर ध्रुवता

नकारात्मक सिग्नल आउटपुट (1kOhm अधिकतम लोड)

प्रीएम्पलीफायर प्रतिक्रिया

डिटेक्टर क्षमता द्वारा रीसेट करें

तापमान सेंसर संवेदनशीलता (डायोड)

770 एमवी = -50 डिग्री सेल्सियस

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चित्र 2a. X-123 का विन्यास, जिसमें एक ही आवास में डिटेक्टर, प्रीएम्पलीफायर, प्रोसेसर और बिजली आपूर्ति शामिल है। चित्र 2बी. इकट्ठे डिटेक्टर और प्रीएम्पलीफायर इलेक्ट्रॉनिक प्रणालियों के लिए घटकों के रूप में उपलब्ध हैं।

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चित्र 3. XR100CR डिटेक्टर के संशोधन

XR-100CR के लिए डिजिटल पल्स प्रोसेसर और पावर सप्लाई

XR-100CR/PX5 प्रणाली बिजली लागू होने के एक मिनट से भी कम समय में स्थिर संचालन की गारंटी देती है।

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चित्र 4. ब्लॉक आरेख

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चित्र 5. Si-PIN और SDD डिटेक्टरों के लिए रिज़ॉल्यूशन बनाम पीक निर्माण समय

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चित्र 6. विभिन्न शिखर निर्माण समय के लिए गणना दर के फलन के रूप में संकल्प

दक्षता वक्र

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चित्र 7. XR-100CR डिटेक्टर के लिए कण पहचान दक्षता।

अपनी अनूठी डिजाइन और विश्वसनीयता के कारण, इस डिटेक्टर को मंगल ग्रह की चट्टानों के विश्लेषण हेतु खोज मिशन के लिए चुना गया था।

मंगल ग्रह से प्राप्त पत्थर का पहला स्पेक्ट्रम!

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चित्र 8. मंगल ग्रह से लिया गया पहला स्पेक्ट्रम

XR-100CR और मिनी-X एक्स-रे ट्यूब पर आधारित XRF प्रणाली

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चावल. 9. XRF प्रणाली

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चित्र 10. MP1 XRF सर्किट बोर्ड पर XR100CR और मिनी-X

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